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STIL SA
Mesure sur Plastique

CERAMIQUES

Mesure sur Textiles
flèche non active
 Exemple 1 : Céramique et couche conductrice
exemple 2 Céramique

    Intérêts de la mesure :

  • Mesure de l'épaisseur d'une couche conductrice déposée par sérigraphie juste après le dépôt alors qu'elle est encore humide.
  • Contrôle de l'épaisseur de la couche conductrice avant la cuisson du composant.
  • Minimisation du temps de réaction pour correction du process de fabrication.
Cliquez sur les images pour une meilleure définition
1 - Couche conductrice épaisse sur substrat en céramique altitude en fausses couleurs
2 - Couche conductrice épaisse sur substrat en céramique vue en 3D

Paramètres de la Mesure
Système de mesure :
Profilomètre MICROMESURE 2
Contrôleur :
CHR 150
Crayon optique :
CL2 MG 140
Échantillon :
Composant électronique
Matériau :
Céramique + métal
Dimensions :
17 mm x 17 mm
Pas de mesure :
10 µm x 10 µm