Exemples de mesure > Matériaux Accueil Stil
STIL SA
Mesure sur Métal

SEMI-CONDUCTEURS

 Mesure sur Plastique
flèche non active
 Exemple 1 : Écran plat
exemple 2 semi-conducteur

    Intérêts de la mesure :

  • Micro-topographie sans préparation préalable de la surface.
  • Dimension de scan indépendante de la résolution souhaitée.
  • Caractérisation et analyse de défaillance.
Cliquez sur les images pour une meilleure définition
Écran plat à émission de champ altitude en fausses couleurs Écran plat à émission de champ mesure d'intensité en fausses couleurs
1 - Écran plat à émission de champ
(mesure d'Altitude en fausses couleurs)
2 - Écran plat à émission de champ
(mesure d'Intensité en fausses couleurs)
Paramètres de la Mesure
Système de mesure :
Profilomètre MICROMESURE 2
Contrôleur :
CHR 150
Crayon optique :
OP 20
Échantillon :
Composant électronique
Matériau :
Silicium
Dimensions :
100 µm x 100 µm
Pas de mesure :
4 µm x 4 µm