Actualités 04/2011

Les produits STIL sur le salon CONTROL – Stand H1 1330

3 au 6 mai 2011 à Stuttgart

Cette année encore, STIL sera présente au Salon CONTROL, le rendez-vous annuel des spécialistes de la mesure, qui se déroulera à Stuttgart, du 03 au 06 mai 2011. Notre équipe sera présente et disponible pour échanger avec vous sur notre gamme de capteurs « point » haute précision. Vous pourrez notamment découvrir en détail les fonctionnalités du coffret CCS PRIMA2 qui offre deux voies de mesure multiplexées, et donc un avantage économique évident pour des mesures multipoint. Mais en termes d' avantage économique, c'est sans doute le tout nouveau STIL-INITIAL qui vous séduira le plus. Décliné en trois versions offrant autant de gammes de mesure, le capteur « prêt à l'emploi » STIL-INITIAL vous donnera accès à la mesure confocale chromatique à un tarif imbattable. En 2010, les capteurs DUO (interférométrie lumière blanche) et MPLS (capteur ligne) ont connu un succès très important dans le semi-conducteur et l'électronique grand public. Cette tendance se confirme en 2011 avec des intégrations en série sur chaine de production. La gamme de crayons optiques STIL s'agrandit avec de nouvelles références aux performances inédites. Accédez à de très grandes distances de travail : jusqu'à 0,5m! Toute l'équipe STIL aura le plaisir de vous accueillir à Stuttgart dans le Hall 1 sur le stand 1330. Venez nombreux découvrir nos nouveautés!