La norme ISO 25178 désigne un ensemble de normes internationales définissant l’analyse des états de surface surfaciques (appelés aussi états de surface 3D). La norme ISO 25178 est la première norme au monde prenant en compte la spécification et la mesure des états de surface tridimensionnels. La norme ISO 25178 définit notamment les paramètres surfaciques d’état de surface et les opérateurs de spécification associés.

La norme ISO 25178 décrit également les technologies de mesure applicables, les méthodes pour les étalonner ainsi que les étalons matérialisés ou les étalons logiciels nécessaires. La grande nouveauté de cette norme ISO 25178 est la prise en compte des moyens de mesure sans contact, déjà largement utilisés dans l’industrie mais qui ne disposaient pas jusque là du support normatif nécessaire dans le cadre d’une démarche qualité ISO 9000.

Cette norme ISO 25178 officialise donc désormais les moyens métrologiques surfaciques en plus des moyens profilométriques normalisés depuis 30 ans. Il en est de même avec les technologies de mesure qui ne sont plus limitées à la mesure à contact (stylet à pointe diamant), mais peuvent être optiques, telles que le capteur point confocal chromatique ou le microscope interférométrique. STIL a activement participé à l'élaboration de la norme 25178 et en particulier de la partie 602 décrivant le système de profilometrie reposant sur le capteur confocal chromatique.

Membre du comité ISO de normalisation Mr COHEN-SABBAN, Président Directeur Général de STIL et inventeur du principe du capteur confocal chromatique, a ainsi apporté toute sa connaissance du principe optique et ainsi contribué a la rédaction du texte normatif. Bien entendu les capteurs confocaux chromatiques STIL des gammes CHR et CCS sont tout à fait indiqués pour un usage dans le cadrede la norme ISO 25178. De la même manière la gamme des stations de métrologie 3D MICROMESURE2 respecte en tout point les exigences de cette norme.