| Actualités 12/2009 |
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Tarifs en baisse – STIL accompagne la sortie de crise…
Dès le 1er Janvier 2010, STIL appliquera une baisse de prix significative sur une sélection de produits, logiciels et services. Cette politique tarifaire volontariste permettra à nos clients de bénéficier des solutions de mesure sans contact toujours aussi performantes pour un coût optimal.
Alors n’hésitez pas à nous contacter et à nous demander une offre de prix.
Nouvel e-catalogue 2010 disponible dès maintenant :
Nous sommes très heureux de vous informer que la mise à jour de l'e-catalog international STIL 2010 est maintenant disponible en ligne. Totalement interactif, il offre toujours un confort d’utilisation optimal grâce au moteur de recherche intégré.
Vous pourrez feuilleter cette édition virtuelle et interactive, zoomer, sélectionner et rechercher.
Un catalogue toujours à portée de clic et pratique à consulter.
La nouvelle version comprend des informations détaillées sur les nouveaux produits STIL.
| Sensors: | CCS PRIMA 4 |
| Spectrocolorimeter: | Nouvelles fonctionnalités RUBY MANAGER |
| Goniophotometer: | REFLET IR-i et IR-s |
| Lighting system: | XE LINE 500, LED100 et LED300 |
Pour obtenir un exemplaire consultable hors connexion, télécharger la version exécutable ou la version PDF :
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Le vernis de la Joconde analysé par les capteurs STIL S.A.
Le tableau de la Joconde peint entre 1503 et 1506 par Léonard de Vinci est aujourd’hui indissociable du musée du Louvre et plus généralement de l’art. Des études techniques et scientifiques sont donc organisées régulièrement pour contrôler l’état de conservation de ce chef d’œuvre.
Récemment, une nouvelle analyse a été réalisée par le Centre de Recherche et Restauration des Musées de France (C2RMF) pour étudier les caractéristiques dimensionnelles du vernis à l’aide des capteurs de la société STIL (CHR-150 et crayon 300VM).
Après avoir retiré le tableau de son enceinte protégée et enlevé le châssis-cadre qui permet le renforcement du panneau de bois voilé, la mesure a été réalisée in situ grâce à la portabilité du système. La méthode proposée par STIL est idéale car sans contact (à plusieurs millimètres de l’œuvre), non invasive et non destructive (lumière blanche). Cette mesure d’épaisseur est une aide précieuse sur l’histoire de l’œuvre. La technologie STIL qui permet aussi la mesure de topographie, de rugosité et de couleur est utilisée sur les peintures de chevalet, le marbre, le papier ou la soie en complément des autres méthodes comme par exemple l’inspection visuelle, la spectroscopie ou encore l’analyse chimique.
Plusieurs institutions prestigieuses du monde de l’art sont équipées des capteurs STIL comme par exemple la réunion des musées nationaux (RMN) et le laboratoire de recherche des monuments historiques (LRMH).
Illustration : La Joconde analysée par le C2RMF à l’aide des capteurs STIL.
Bibliographie sur ces applications :
Ezrati J.-J., Mesures des épaisseurs du vernis de quelques peintures, 10ème colloque Méthodes et techniques optiques pour l’industrie, Reims, France, 2009.
Ezrati J.-J., Two non-invasive techniques for the study of the surface of cultural heritage objects : optical measurement of micro-roughness and backscattering spectro-colorimetry, 9ème conférence ART2008, Jerusalem, Israel, 2008.
Ezrati J.-J., Bouquillon A., Bormand M., Vigears D., Meyohas M.-E., La microtopographie pour une meilleure connaissance des œuvres ; l’étude du poli chez Desiderio da Settignano, artiste du XVesiècle, Contrôles, essais>mesures, supplément du n°21, Paris, 2007.
Goniophotométrie en proche infrarouge
avec les REFLET IR-i et IR-s :
Le goniophotomètre REFLET pour la mesure de BRDF/BTDF est utilisé dans de nombreuses applications pour la mesure d’indicatrice de diffusion (automobile, cosmétique, optique ophtalmique, éclairage, …) ou la caractérisation des surfaces polies (spatial, semi-conducteur, …).
L’angle d’incidence du faisceau d’illumination peut être réglé dans une plage de 90° ou 180° selon le modèle. Avec un double goniomètre motorisé, le goniophotomètre REFLET mesure la diffusion sur l’ensemble de l’hémisphère autour de l’échantillon.
STIL propose désormais deux nouvelles options dédiées à la détection dans le domaine du proche infrarouge pour son goniophotomètre REFLET ouvrant ainsi de nouvelles applications.
Les goniophotomètres REFLET IR-s et IR-i ont été conçus pour obtenir des informations précises sur les caractéristiques optiques des matériaux intégrés dans les systèmes de vision infrarouge. En effet, l’étude de la lumière parasite (flare) et de la rétrodiffusion dépend du domaine de longueur d’onde considéré (IR ou visible).
Illustration : L’analyse de la rétrodiffusion est aujourd’hui disponible dans le domaine du proche infrarouge.
Dans l’industrie photovoltaïque, ces nouvelles options permettent une caractérisation selon la longueur d’onde des matériaux constituant les panneaux solaires et une mise en relation de ces résultats avec la distribution du rayonnement solaire. L’intérêt pour le fabricant étant de minimiser les réflexions et de propager la lumière à travers le matériau où elle doit être absorbée et transformée en charges électriques. Le contrôle de la transmission dans le proche infrarouge est donc une analyse complémentaire qui permet de diagnostiquer des pertes de lumière néfastes au rendement de la cellule.
La détection est disponible soit en mode Intensité dénommé IR-i (0.9 – 1.7 µm) soit en mode spectral IR-s (1-1.7 µm). Ces deux options proposent une profondeur de codage sur 16 bits et une interface USB 2.0 high speed.
Le module IR-i fonctionnant en intensité est équipé de plusieurs détecteurs InGaAs non refroidi de dernière génération. La conception optique et électronique astucieuse permet d’obtenir une large dynamique d’acquisition.
Pour les applications nécessitant l’acquisition d’un spectre, l’option spectrographe IR-s équipée d’une barrette InGaAs de 256 pixels permet de mesurer sur la bande spectrale désirée avec une résolution de 5 nm à 30 nm.
Ces options sont disponibles sur les deux versions de banc de rétrodiffusion (REFLET-90 et REFLET-180) et peuvent être intégrés en complément des modules de détection standard (0.4-0.9 µm).
Les capteurs STIL S.A. au service de l’expertise des violons :
La fabrication d’un violon est une opération longue et complexe car l’instrument est constitué de plusieurs dizaines d’éléments en bois, d’essences différentes, collés ou assemblés. L’étape de vernissage qui a un rôle esthétique et protecteur est la plus longue avec le dépôt de très nombreuses couches. Les capteurs STIL permettent de mesurer plusieurs caractéristiques physiques des matériaux des violons. Les applications et mesures possibles sur des violons sont les suivantes :
Au cours des conférences annuelles de l’association ALADFI (association française des luthiers) fin novembre à Saint Jean d’Angely, la société STIL a démontré les performances de ses instruments optiques dans le cadre d’une conférence et d’un atelier pratique où chacun des participants a eu l’occasion de réaliser des mesures d’épaisseur de vernis. Des perspectives intéressantes ont été mises à jour dans la caractérisation des recettes de fabrication de vernis.
Illustration : Microtopographie (5mm x 10mm) des éléments composant un vernis de violon : Bois + fond de bois + vernis.
Remerciements à Messieurs Eric LOURME et Antoine CAUCHE, luthiers, pour leur collaboration.