NEWSLETTER N°8
Janvier - Février - Mars 2011


Toute l’équipe de STIL a le grand plaisir de vous présenter ses meilleurs vœux pour l’année 2011, que nous vous souhaitons ponctuée du succès et de réussite.

C’est également en 2011 que STIL a fêté son 18ème anniversaire. En effet, le 13 janvier 1993 naissait le leader mondial du confocal chromatique, maintenant arrivé à sa majorité.

Et comme une bonne nouvelle ne vient jamais seule, STIL est très fière d’annoncer des résultats record pour l’année 2010.


Sommaire :

STIL entre au catalogue d'EDMUND OPTICS (EO)

STIL annonce la signature d’un accord de distribution avec Edmund Optics, leader dans la fourniture d’optiques et de composants optiques dans l’industrie depuis 1942.

Le capteur confocal chromatique STIL INITAL est aujourd’hui disponible dans trois références dans le catalogue Edmund Optics distribué à plus de 2 millions d’exemplaires chaque année ainsi qu’à travers son site internet de vente en ligne (www.edmundoptics.com).

Cette nouvelle gamme permet d’accéder à moindre coût à la mesure de haute précision en imagerie confocale chromatique. Chacune des références permet de répondre à des problématiques différentes de mesure et comprend un ensemble complet prêt à l’emploi (capteur, crayon optique, fibre, câbles et logiciels sur clé USB) pour seulement 5100 Euros HT.

Les références disponibles sont :    

  • STIL Initial 0.4 (gamme de mesure : 0,4 mm ; résolution axiale : 22 nm)
  • STIL Initial 4 (gamme de mesure : 4 mm ; résolution axiale : 160 nm)
  • STIL Initial 12 (gamme de mesure : 12 mm ; résolution axiale : 400 nm)

http://www.edmundoptics.com/onlinecatalog/displayproduct.cfm?productID=3371

STIL Initial, c’est toujours la performance d’un capteur STIL à un prix imbattable. 

Cette gamme est dès aujourd’hui disponible aussi en achat direct chez STIL ou auprès de nos distributeurs internationaux.

STIL restructure son réseau de distribution en allemagne

STIL annonce la signature d’un contrat avec la société POLYTEC GmbH  pour la distribution de ses capteurs de mesure confocale à codage chromatique ainsi que de mesure interférométrique lumière blanche. Cet accord prend effet dès janvier 2011. Jusqu’à présent, les produits STIL étaient principalement distribuées en Allemagne par une société spécialisée en métrologie et sous sa propre marque. Désormais, ces mêmes capteurs sont disponibles auprès de la société POLYTEC.     

Fondé en 1967, le groupe POLYTEC propose des solutions innovantes pour la mesure optique de vibrométrie et vélocimétrie, la vision industrielle, l’éclairage, la photonique et les procédés de collage avancés. POLYTEC est certifié ISO 9001 depuis 1994.

Les produits STIL viendront renforcer l’offre de POLYTEC dans les systèmes de mesure sans contact développés et distribués par la société POLYTEC. Depuis plus de 40 ans, POLYTEC propose des solutions de mesure optique high-tech aux chercheurs et aux ingénieurs.

En complément de son activité sur le marché allemand, les filiales à l’étranger de la société POLYTEC (USA, ANGLETERRE, JAPON, CHINE, FRANCE) permettront aux produits STIL d’être aussi largement diffusés sur les différents continents.

Contact:

POLYTEC 
T. WIESENDANGER (Allemagne)
 
Tel: +49 7243604-335

t.wiesendanger@polytec.de

FOCUS TECHNOLOGIQUE : Caractérisations photométriques et dimensionnelles pour l'industrie photovoltaïque avec les capteurs STIL

Notre gamme d'instruments (profilomètres et goniophotomètres) donne accès à de nombreux paramètres pour caractériser et inspecter les cellules photovoltaïques (épaisseur, microtopographie, rugosité, profondeur des vias, diffusomètrie).

Nous proposons des solutions innovantes de haute performance permettant l’investigation non destructive et un contrôle en ligne des étapes de fabrication des cellules solaires.

Voici un exemple de nos capacités dans la production des cellules silicium, nous intervenons lors du  découpage des lingots (Bow, Warp, Epaisseur, Rugosité), de la texturation (Microtopographie, Diffusométrie), du dépôt du traitement antireflets (Epaisseur, Diffusométrie), de la métallisation (Largeur et Hauteur des contacts, Microtopographie) et de l’encapsulation (Epaisseur, topographie).

Nos capteurs et nos systèmes sont utilisés aussi bien en R&D qu'en contrôle industriel de la production. En complément de l'analyse des cellules type silicium cristallin, d'autres types de cellule ou de technologies peuvent être étudiés comme :

- Couches minces (Ablation laser, Epaisseur de feuille métallique en sortie de laminoir),

- Nano-fils, colleteurs nanopiliers (Diamètre des nano-fils, Microtopographie),

- Black silicon (Microtopographie, Diffusométrie),

- TSV (Profondeur des Vias, Trous de contact).

N’hésitez pas à nous transmettre des échantillons, notre équipe d'ingénieurs application réalisera une mesure accompagnée de son rapport.

Le capteur RUBY permet la certification colorimétrique des photographies des oeuvres d'art réalisées par l'agence RMN

Extrait de l’article « de l’art et des pixels » publié dans le magazine Ordinateur Individuel + SVM de Janvier 2011, page 55.

« Le respect des couleurs est une obsession pour le service photographique de la RMN. C’est ce spectrocolorimètre RUBY, développé par la société française STIL, qui garantit la plus grande fiabilité possible. Il se compose d’un boîtier qui envoie, via une fibre optique, un faisceau lumineux de diamètre variable sur la teinte à mesurer, une seconde fibre récupère l’information tonale et la transmet au boîtier qui va calculer sa valeur LAB (luminance et chrominance). Le spectrocolorimètre permet aussi de refaire les tables LAB des chartes de couleurs qui évoluent  avec le temps, les manipulations ou l’exposition à la lumière. Toutes ces mesures servent à établir un rapport de certification colorimétrique qui prouve que les différences de couleurs entre les fichiers RAW de l’agence photo et l’œuvre originale sont imperceptibles à l’œil nu (delta E inférieur à 2). »

Crédit photo : RMN – René-Gabriel Ojeda

Ils ont parlé de nous en 2010

Les instruments innovants proposés par notre société permettent à nos partenaires et nos clients de créer et déployer de nouvelles solutions pour leur métier. L’originalité des méthodes mises en œuvre et le gain de performances sont régulièrement mis en avant dans des publications (articles, revues) et conférences scientifiques. Notre équipe d’ingénieurs participe aussi activement à la diffusion de cette littérature.

REVUES : 

  • Wear, Wear quantification of human Enamel and dental Glass-ceramics using white light profilometry, A.Theocharopoulos, L. Zou, R. Hill, M. Cattell, doi:10.1016/j.wear.2010.08.019

http://dx.doi.org/10.1016/j.wear.2010.08.019

  • Color research & application, Goniophotometry: From measurement to representation in the CIELAB color space, L. Simonot, M. Hébert, D. Dupraz, doi:10.1002/col.20605

http://dx.doi.org/10.1002/col.20605

  • In Situ, Revue des patrimoines n°13, L’étude microtopographique et la visualisation 3D dans l’analyse de gravures préhistoriques – L’exemple des pierres gravées de La Marche, N. Mélard.

http://www.insitu.culture.fr/article.xsp?numero=13&id_article=melard-1424

  • L'ordinateur individuel+SVM n°234 janvier 2011, De l'art et des pixels, p.55

http://www.01net.com/editorial/525103/de-lart-et-des-pixels/

CONFERENCES :

  • CMOI, STILµForce : Développement d'un capteur de micro et nano forces par lévitation diamagnétique, S.Oster, E.Piat, J.Abadie. 
  • CMOI (2010), Diagnostic des œuvres d'art et épaisseur de vernis, Jean-Jacques Ezrati (C2RMF).

Afin de prendre connaissance de l’ensemble de notre gamme de produits, nous vous invitons à visiter notre site internet à l’adresse suivante : www.stilsa.com. Pour tout autre renseignement ou nous adresser des échantillons à tester, merci de bien vouloir contacter notre équipe commerciale :

sales@stilsa.com / contact@stilsa.com

STIL S.A.

Domaine de Saint Hilaire

595, rue Pierre Berthier

13855 Aix-en-Provence Cedex 3

France

Téléphone : +33 (0)4 42 39 66 51

Fax. : +33 (0)4 42 24 38 05

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