Créée en Janvier 1993, la société STIL (Sciences et Techniques Industrielles de la Lumière) propose ses compétences et son savoir faire dans le domaine de l'instrumentation optique à hautes performances.

Inventeur du principe de l'imagerie confocale chromatique et leader mondial dans le domaine des capteurs confocaux chromatiques, STIL a développé deux familles de capteurs points (CHR et CCS) et une famille de capteurs ligne (MPLS) basées sur ce concept innovant.

Ces capteurs sans contact à haute résolution répondent aux besoins des applications métrologiques les plus exigeantes, qu'il s'agisse de la microtopographie, de l'analyse de microformes, de la mesure de rugosité ou du reverse engineering. Capables de fonctionner aussi bien en milieu industriel pour le conrôle en ligne de production qu'en laboratoire de recherche, ces capteurs peuvent mesurer sur tout type d'objet (transparent ou opaque, poli ou rugueux) et tout type de matériel (métaux, verre, semi-conductueur, céramique) sans préparation préalable de l'échantillon.

STIL propose des capteurs confocaux chromatiques autonomes aussi bien qu'une station de mesure 3D "clés en mains" (Micromesure), dotée d'un système de balayage à haute précision et d'un logiciel sophistiqué.

Le deuxième axe technologique de STIL est celui de la scattérométrie et de la spectrocolorimétrie. Le double goniométre Reflet permet la mesure spectrale ou en flux intégré des lobes de transmission et de rétrodiffusion d'échantillons même spéculaires. Cet appareil permet également de caractériser l'émission de sources luminueuses.

Toujours à la recherche de solutions innovantes afin d'offrir à ses clients un avantage concurrentiel décisif et l'opportunité de protéger leur avance technologique par des brevets, STIL consacre près de 50% de ses ressources R&D au développement d'équipements "sur mesure" pour le compte d'intégrateurs OEM.